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三硒化锆晶體(tǐ)（百分(fēn)之99.995） ZrSe3

簡要描述：三硒化锆晶體(tǐ)（99.995%） ZrSe3 （Zirconium Triselenide）
晶體(tǐ)尺寸：~8毫米
電(diàn)學性能：半導體(tǐ)
晶體(tǐ)結構：單斜晶系
晶胞參數：a = 0.541 nm, b = 0.375 nm, c = 0.944 nm, α = γ = 90°, γ = 97.50°
晶體(tǐ)類型：合成
晶體(tǐ)純度：＞99.995%

  • 産品型号：
  • 廠商(shāng)性質：生(shēng)産廠家
  • 更新時間：2018-07-10
  • 訪  問  量：660
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三硒化锆晶體(tǐ)（99.995%） ZrSe3 (Zirconium Triselenide)
晶體(tǐ)尺寸：~8毫米
電(diàn)學性能：半導體(tǐ)
晶體(tǐ)結構：單斜晶系
晶胞參數：a = 0.541 nm, b = 0.375 nm, c = 0.944 nm, α = γ = 90°, γ = 97.50°
晶體(tǐ)類型：合成

晶體(tǐ)純度：＞99.995%

 

X-ray diffraction on a ZrSe3 single crystal aligned along the (001) plane. XRD was performed at room temperature using a D8 Venture Bruker. The 5 XRD peaks correspond, from left to right, to (00l) with l = 2, 3, 4, 5, 6, 7, 8

 

Powder X-ray diffraction (XRD) of a single crystal ZrSe3. X-ray diffraction was performed at room temperature using a D8 Venture Bruker.

 

Raman spectrum of a single crystal ZrSe3. Measurement was performed with a 785 nm Raman system at room temperature.

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