HORIBA SZ-100納米粒度/Zeta電(diàn)位分(fēn)析儀

動态光散射粒徑分(fēn)布測定裝置新型号，高靈敏度、高精度的測量；*表征單一(yī)體(tǐ)系納米尺度粒子；*解析納米粒子的物(wù)質結構。
主要應用範圍爲：陶瓷粒子、金屬納米粒子、碳黑、制藥、病毒、塗料、化妝品、聚合物(wù)、食品、CMP、顔料、油墨

粒子直徑測定：
超寬動态光散射範圍：0.3nm~8000nm
通過采用與NEDO國家項目共同開(kāi)發的相關器，實現高性能化
在單一(yī)納米粒子光學系統中(zhōng)，采用更低雜(zá)散光90度檢測光學系統
雙光路系統（90度和173度）适用于更寬更濃度範圍的樣品測量，可以進行釉漿、顔料等高濃度樣品以及膠束、聚合物(wù)等濃度樣品的測定

産品特點：
可測納米粒子的三個重要要素——粒子直徑、Zeta電(diàn)位和分(fēn)子量
樣品濃度從PPM到百分(fēn)之幾十，SZ-100都能在原液狀态下(xià)取樣和測定
HORIBA自主研發的微量電(diàn)泳樣品池，可以測定僅100uL的Zeta電(diàn)位
廣泛應用于膠制粒子、機能性納米粒子、高分(fēn)子、膠束、核糖體(tǐ)、納米囊等的測定
取樣後，僅需按測定開(kāi)始按鈕即可，操作簡單

粒子直徑分(fēn)布測定圖例

溶菌酶（卵清蛋白(bái)） 醋酸緩沖劑pH4.3              鹽酸硫胺素（維生(shēng)素B1鹽酸鹽）
分(fēn)子量：約14000                                              分(fēn)子量：337
濃度：0.1mg/ml                                               濃度：300mg/ml
平均直徑：4.0nm             平均直徑：0.5nm

Zeta電(diàn)位

NIST SRM1980 α-FeOOH   電(diàn)泳遷移率：2.53±0.12umcm/Vs
<測定結果>電(diàn)泳遷移率：2.53umcm/Vs，Zeta電(diàn)位：32.9mV

LUDOX TM SiO2，0.01mol/L KCI
<測定結果>Zeta電(diàn)位：-38.3mV