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三維輪廓儀可以測量任何類型的納米分(fēn)辨率樣品

更新時間:2021-11-24      點擊次數:953
  三維輪廓儀可在同一(yī)測試平台上運行多項測試,并可根據不同的技術應用需求改變産品組合。可對樣品的同一(yī)區域進行不同模式的實驗檢測,模式切換可全自動進行。多種技術的融合,可以使不同的技術在同一(yī)台測試儀上發揮各自的優勢。這種集成技術不僅有利于數據的綜合分(fēn)析,還可以降低維護成本,提高效率。
  三維輪廓儀可以在同一(yī)個測試平台上運行多個測試,單擊按鈕可以更改成像模式。這種組合可以輕松對任何表面成像,如透明、平面、暗色、平面、曲面等。每種成像方式各有優勢,各種技術相得益彰。這種集成技術不僅有利于數據的綜合分(fēn)析,還可以降低維護成本,提高效率。

 

三維輪廓儀
 

 

  1、一(yī)體(tǐ)化操作的測量分(fēn)析軟件,無需切換界面。配置參數是在測量前預先設置好的。軟件自動統計測量數據并提供數據報表導出功能,可快速實現批量測量功能。
  2、測量中(zhōng)提供自動多區域測量功能、批量測量、自動對焦、自動​​亮度調節等自動功能。
  3、測量中(zhōng)提供熔接測量功能。
  4、在分(fēn)析中(zhōng),我(wǒ)們提供了調整位置、校正、過濾和提取四個模塊的數據處理功能。調整位置包括圖像整平、鏡像等功能。校正包括空間濾波、修整、峰值去(qù)噪等功能;過濾包括去(qù)形、标準過濾、過濾頻(pín)譜等功能;提取包括提取區域和截面的功能。
  5、分(fēn)析提供五種分(fēn)析功能:粗糙度分(fēn)析、幾何輪廓分(fēn)析、結構分(fēn)析、頻(pín)率分(fēn)析和功能分(fēn)析。粗糙度分(fēn)析包含符合國際标準的線粗糙度、表面粗糙度、平面度等全參數分(fēn)析功能;幾何輪廓分(fēn)析包括台階高度、距離(lí)、角度、曲率等特征的測量,以及直線度、圓度和形位公差的評價;結構分(fēn)析包括孔體(tǐ)積、槽深等;頻(pín)率分(fēn)析包括紋理方向和頻(pín)譜分(fēn)析;函數分(fēn)析包括SK參數和體(tǐ)積參數。
  6、分(fēn)析中(zhōng)提供一(yī)鍵分(fēn)析、多文件分(fēn)析等輔助分(fēn)析功能。分(fēn)析模闆已設置。結合測量中(zhōng)提供的自動測量和批量測量功能,可以實現小(xiǎo)型精密設備的批量測量和直接獲取分(fēn)析數據的功能。
  在同一(yī)平台上使用多種光學技術,三維輪廓儀幾乎可以測量任何類型的納米分(fēn)辨率樣品。表面輪廓儀配備功能強大(dà)的分(fēn)析軟件,符合多種标準。雙模3D表面輪廓儀可在同一(yī)測試平台上運行多項測試,并可根據不同的技術應用需求改變産品組合。可對樣品的同一(yī)區域進行不同模式的實驗檢測,并可自動進行模式切換。多種技術的融合,可以使不同的技術在同一(yī)台測試儀上發揮各自的優勢。這種集成技術不僅有利于數據的綜合分(fēn)析,還可以降低維護成本,提高效率。

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