顯微全光譜分(fēn)光光度計不僅可以獲得微型樣品的高質量顯微圖像，還可以測量樣品的微區全光譜，光譜範圍可以從200nm擴展到2100nm，可完成對透射或吸收光譜、反射光譜、熒光光譜和偏振光譜的采集和分(fēn)析。顯微分(fēn)光光度計分(fēn)析系統以其質量性能、簡單易用的操作界面和專業的售後服務，爲顯微鏡和光譜學開(kāi)辟了新的應用空間。它可用于吸收或透射、反射、熒光和偏振分(fēn)析。使用操作系統對計算機沒有特殊要求，其應用軟件使用簡單，操作方便。
結合顯微鏡和光譜學的優點，顯微全光譜分(fēn)光光度計用于小(xiǎo)樣品或小(xiǎo)面積樣品的光譜和色度分(fēn)析，通過反射、透射、熒光和偏振的測量完成微觀物(wù)證的分(fēn)析樣品的光譜。具有科研級高分(fēn)辨率探測器（CCD）和半導體(tǐ)制冷探測器，增強穩定性；科研級光學接口，高分(fēn)辨率彩色成像系統。最新的操作系統，應用軟件使用簡單，操作方便。
微差光度計爲全光譜顯微光譜學設立了新标準，具有科技水平，可對樣品取樣區的吸收、透射、反射、熒光、拉曼等光譜數據進行采集和成像。光譜範圍從紫外(wài)到近紅外(wài)。具有自動控制的光譜和圖像分(fēn)析軟件，具有自動化、簡單、長期穩定等特點。可應用于工(gōng)業顯微觀察、材料科學、法醫痕量鑒定、生(shēng)物(wù)樣品分(fēn)析檢測等領域。
顯微全光譜分(fēn)光光度計高靈敏度固态陣列檢測器采用熱電(diàn)冷卻，信噪比高，長期穩定性好。高分(fēn)辨率數字成像系統通過CCD采集紫外(wài)和近紅外(wài)照射樣品的高分(fēn)辨率彩色圖像。完善而強大(dà)的軟件功能不僅控制顯微鏡、光度計和數字成像，還提供先進的分(fēn)析和處理能力，如膜厚測量。
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