拉曼電(diàn)鏡聯用系統可以結合樣品的微觀形态、元素分(fēn)析、分(fēn)子結構、理化性質、結晶度、晶體(tǐ)缺陷等信息，爲科研人員(yuán)提供了一(yī)個全新的多維分(fēn)析平台。該平台可配置多種的拉曼光譜儀，爲您提供個性化的應用選擇。
拉曼電(diàn)鏡是一(yī)種用細焦電(diàn)子束轟擊樣品表面，通過電(diàn)子與樣品的相互作用，産生(shēng)二次電(diàn)子、背散射電(diàn)子、X射線等，觀察分(fēn)析樣品表面或斷裂形态的一(yī)種檢測方法。借助于EDS或WDS，可以獲得分(fēn)析區域内元素種類和含量的定性信息。還可以通過添加EBSD附件獲得晶體(tǐ)取向信息。但用SEM來表征物(wù)質的化學結構是比較困難的。
拉曼光譜是散射光譜的一(yī)種。通過測量物(wù)質分(fēn)子鍵的振動頻(pín)率，可以獲得物(wù)質的化學結構特征，如官能團、對稱基團、晶格缺陷等物(wù)質的化學結構特征的詳細信息，以及物(wù)質的結晶度等。但是，拉曼電(diàn)鏡聯用系統的組合系統的拉曼光譜往往是借助光學顯微鏡對樣品進行觀察和激光聚焦，受所使用的激光源波長（一(yī)般爲紫外(wài)、可見光、近紅外(wài)波段）的限制，空間分(fēn)辨率相對較低，因此在一(yī)些結構複雜(zá)的樣品中(zhōng)，很難分(fēn)辨出不同的相和顆粒，因此，拉曼電(diàn)子顯微鏡的組合系統的拉曼光譜是一(yī)種比較好的方法。
可采用拉曼電(diàn)鏡聯用系統對樣品進行原位分(fēn)析。由于SEM數據和拉曼數據可以從同一(yī)點采集，因此可以快速直觀地表征樣品的表面形态與分(fēn)子結構的關系。在SEM圖像的基礎上，可以更準确地選擇樣品的測試區域進行快速、無損分(fēn)析材料成分(fēn)，得到準确的樣品成分(fēn)數據。
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