電(diàn)化學顯微鏡是一(yī)款精密的儀器
電(diàn)化學顯微鏡爲表面科學測量提供了一(yī)個新的途徑，開(kāi)爾文探針是一(yī)種無接觸，無破壞性的儀器，可以用于測量導電(diàn)的、半導電(diàn)的，或塗覆的材料與試樣探針之間的功函差。這種技術是用一(yī)個振動電(diàn)容探針來工(gōng)作的，通過調節一(yī)個外(wài)加的前級電(diàn)壓可以測量出樣品表面和掃描探針的參比針尖之間的功函差。
功函和表面狀況有直接關系的理論的完善使SKP成爲一(yī)種很有價值的儀器，它能在潮濕甚至氣态環境中(zhōng)進行測量的能力使原先不可能的研究變爲現實。
電(diàn)化學顯微鏡是一(yī)款精密的掃描微電(diàn)極系統，具有*空間分(fēn)辨率，在溶液中(zhōng)可檢測電(diàn)流或施加電(diàn)流于微電(diàn)極與樣品之間。
電(diàn)化學顯微鏡用于檢測，分(fēn)析，或改變樣品在溶液中(zhōng)的表面和界面化學性質。掃描振動電(diàn)極技術是一(yī)種非破壞性掃描，利用振動探針，測量電(diàn)化學化學樣品表面産生(shēng)的電(diàn)特性。确保用戶可以實時測定和定量局部電(diàn)化學反應以及腐蝕。
電(diàn)化學顯微鏡是一(yī)種無接觸，無破壞性的儀器，可以用于測量導電(diàn)，塗膜，或半導體(tǐ)材料，與樣品探針之間的功函差。這種技術是用一(yī)個振動電(diàn)容探針來工(gōng)作的，通過調節一(yī)個外(wài)加的前級電(diàn)壓測量樣品表面和掃描探針的參比針尖之間的功函差。功函和表面狀況相關。電(diàn)化學顯微鏡的*性質使在潮濕環境甚至是氣态環境中(zhōng)也可以測量，将不可能研究變爲現實。
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